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公司：東莞市勤卓環(huán)境測試設(shè)備有限公司
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| 光耦芯片高低溫老化壽命測試 |
| 光耦芯片高低溫老化壽命測試用于電子元氣件在快速溫度變化條件下的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制，此款設(shè)備具備漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護/控制器停電記憶的安全保護功能。 |
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一、光耦芯片高低溫老化壽命測試概述：
用于電子元氣件在快速溫度變化條件下的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制，此款設(shè)備具備漏電、短路、超溫、電機過熱、壓縮機超壓、過載、過電流保護/控制器停電記憶的安全保護功能。
               
二、光耦芯片高低溫老化壽命測試技術(shù)指標： 具體參數(shù) | 型號 | LK -012G | LK -015G | LK -020G | LK -030G | H:0℃~+150℃ C:-20℃~+150℃ L:-40℃~+150℃ U:-60℃~+150℃ J:-70℃~+150℃ | 測試室尺寸LxDxHcm | 100x100x120 | 100x100x150 | 120x120x150 | 150x120x150 | 外形尺寸 LxDxHcm | 125x194x210 | 125x250x203 | 145x225x203 | 175x 225x203 | 溫度范圍 | -40℃~+150℃ | 濕度范圍 | 20%-98%RH | 解析精度 | 溫度: 0.01℃:濕度: 0.1%RH | 溫濕度偏差 | 溫度: ±1.0℃; 濕度: ±2.5%RH | 升溫時間 | +20℃~150℃約30 min | 降溫時間 | +20℃~-20C℃≤30min | +20℃~-40℃≤55min | +20℃~-70C ≤75min | 材質(zhì) | 外箱:防銹處理冷軋鋼板烤漆 內(nèi)箱: SUS≠304或SUS ≠316不銹鋼板 | 絕緣材料 | 硬質(zhì)聚氨酯泡沫料(帶阻燃劑) | 制冷方式 | 進口泰康壓縮機+鰭片式全銅蒸發(fā)器+風(fēng)冷式冷凝器 | 制冷劑 | 美國杜邦HFC系列環(huán)保制冷劑: R404A、 R23 | 壓縮機泠量 | 3.0P*2臺 | 3.0P*2臺 | 3.0P*2臺 | 4.0P*2臺 | 控制器 | 進口TEMI系列7"觸摸式溫濕度儀表 | 電器元件 | 法國施耐德工控產(chǎn)品、瑞士佳樂、中國臺灣陽明等電器元件 | 加熱、加濕 | 鎳鉻合金加熱管、SUS316制護套式加濕管 | 循環(huán)風(fēng)機 | 長軸電機+不銹鋼風(fēng)輪 | 故障報警 | 壓縮機過流、超壓、過熱、缺水、加熱器無風(fēng)空焚、加濕器無水干燒、漏電保護、超溫保護、欠相、室內(nèi)超溫 | 水質(zhì) | 純凈水或去離子 | 電源 | 380V AC3Φ4W 50/60Hz | 大電流（A） | AC380V | 23A | 25A | 28A | 30A | 其它配件 | 樣品架2塊，引線孔硅膠塞1個，鋼化除霧玻璃1塊 |
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